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當前位置:首頁產品中心材料樣品檢測真空探針臺

  • KT-Z1604T-RL高低溫探針臺

    測試夾具要求:可實現(xiàn)XYZ移動; 高低溫探針臺的詳細介紹測試腔:同時滿足靜態(tài)/動態(tài)測試,304不銹鋼材質,可在紫外燈下保證氣密性測試; 測試樣品數(shù):同時測試8個樣品,可進行頻率-阻抗測試、插指電極和場效應管測試;

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:KT-Z1604T-RL
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  • KT-Z1604TZ-RL分子泵≤10-3Pa真空探針臺

    分子泵≤10-3Pa真空探針臺主要應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:KT-Z1604TZ-RL
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  • KT低溫-196-350℃真空探針臺 鄭科探廠家

    低溫-196-350℃真空探針臺 鄭科探廠家主要應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。

    更新時間:2024-03-27
    產品型號:KT
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  • KT-Z1604TZ高溫35-350℃真空探針臺

    高溫35-350℃真空探針臺主要應用于傳感器,半導體,光電,集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。

    更新時間:2024-03-27
    產品型號:KT-Z1604TZ
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  • KT-Z1604TZ真空探針臺測試設備  高低溫測試臺

    真空探針臺測試設備 高低溫測試臺探針臂為X/Y/Z三軸移動,三個方向均可在真空環(huán)境下精密移位調節(jié),其中X方向調節(jié)范圍:0-30mm;y方向調節(jié)范圍:0-20mm;z方向調節(jié)范圍:0-20mm;用戶可根據(jù)需要自行調節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上,再微調探針支架X/Y/Z 方向行程,通過顯微鏡觀察,使探針對準檢測點后,即可進行

    更新時間:2024-03-27
    產品型號:KT-Z1604TZ
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